|
|
Контакты | Главная | Стартовая | Избранное | Поиск |
2012-03-22 07:53:25, обсуждение: 0
С момента появления первых оптических микроскопов в конце 16 века человечество изобрело несколько новых методик наблюдения за микромиром. Во второй половине 20 века и в начале текущего столетия были разработаны несколько методов, использующих пучок электронов для просвечивания образца и получения изображения. Лучшие современные просвечивающие электронные микроскопы (TEM) способны достигать разрешения в доли ангстрема (1 ангстрем равен 0,1 нанометра). Группа физиков под руководством Цзянь-вэй Мяо (Jianwei Miao) из университета штата Калифорния в Лос-Анджелесе (США) приспособила другой вид таких устройств, растровых просвечивающих электронных микроскопов (STEM), для наблюдения за отдельными атомами в наночастице из однородной материи. Как отмечают ученые, сегодня максимальное разрешение микроскопов этого типа составляет примерно 1 нанометр при получении трехмерных изображений. Для сравнения, типичный размер атома достигает 0,6–2 ангстрем, то есть точность этих микроскопов недостаточна для получения четких изображений отдельных атомов. Мяо и его коллеги ликвидировали этот недостаток при помощи специальной методики наблюдений и обработки полученных данных, известный среди ученых под названием «равноскошенной томографии». Согласно этой методике, исследователь должен найти центр массы у исследуемого образца, разместить его на рабочей поверхности микроскопа и получить серии снимков, последовательно наклоняя образец в ту или другую сторону, каждый раз увеличивая угол наклона на одно и то же значение. Затем эти снимки обрабатываются на компьютере при помощи специального математического алгоритма и объединяются в трехмерную картинку. Авторы статьи проверили работу своей методики, получив трехмерное изображение частицы золота диаметром в 10 нанометров. По словам ученых, им удалось достичь средней разрешающей способности в 2,4 ангстрема, чего было достаточно для появления четких изображений атомов в отдельных сегментах виртуальной наночастицы. Кроме того, Мяо и его коллеги смогли изучить структуру самой частицы и подтвердили, что основой ее формы является икосаэдр – правильный двадцатигранник. По словам физиков, точность и разрешение таких наблюдений можно легко улучшить, если добавить в используемый ими STEM-микроскоп систему, подавляющую искажения в потоке электронов.
Дегтярчук С.В.
• БАК остро нуждается в детекторах для фиксирования элементарных частиц
|