|
|
Контакты | Главная | Стартовая | Избранное | Поиск |
2014-07-09 13:24:50, обсуждение: 0
Но это относится только к 3D образцам. Картина резко меняется при понижении мерности, а именно – при уменьшении толщины эпитаксиальных пленок LaNiO3. В работе [1] обнаружено, что температурные зависимости удельного сопротивления r пленок толщиной в N ³ 3 элементарные ячейки имеют металлический вид (dr/dT > 0), тогда как пленки с N=2 являются диэлектрическими: r ® ¥ при T ® 0 (см. рис.). Температурные зависимости удельного сопротивления пленок LaNiO3 Фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением показала, что причиной перехода металл-диэлектрик является исчезновение когерентных фермиевских квазичастиц. Это может быть связано с формированием при N=2 зарядового и/или спинового порядка. Возможность контроля электрических свойств LaNiO3 путем изменения толщины пленки открывает путь к созданию оксидных наноэлектронных устройств нового типа.
1. P.D.C.King et al., Nature Nanotech. 9, 443 (2014).
Л.Опенов
• БАК остро нуждается в детекторах для фиксирования элементарных частиц
|