Обычно для получения данных о деформации исследуемый образец соединяется с недеформированным материалом, после чего через них пропускается когерентный пучок электронов. Образующаяся в результате интерференционная картина несет в себе информацию об относительной деформации в образцах.

Недостатками этого метода являются сложность состыковки двух образцов микрометрового размера, а также невысокое пространственное разрешение. Группа ученых под руководством д-ра Мартина Хитча (Martin Hytch) из Национального центра научных исследований во Франции размещала образцы рядом друг с другом, а не один над другим, как в предыдущем методе, и использовала для получения интерференционной картины бипризму, применяющуюся в электронной голографии.

Новый метод позволяет получать карту распределения деформаций с высоким пространственным разрешением (до 4 нм) и обладает широким полем обзора (около 1 мкм), сообщает PhyscWorld.