Научные исследования и технические разработки
по физике. Новости, факты, люди, интервью. Теория и практика.
Каталог статей. Каталог ссылок. Форум. Научно-технические разработки.
Документация, библиотека.
Палата мер и весов. Работа
для физиков. Юмор, сатира, лирика.
Концерн «Наноиндустрия» осуществил разработку нового программного обеспечения для производимого им нанотехнологического комплекса «УМКА»
Разработка этого ПО велась с использованием адаптированной технологии IBM Rational. Новое ПО существенно упрощает использование комплекса, повышает качество визуализации образцов и снижает квалификационные требования к начальной компьютерной подготовке пользователей за счет упрощения пользовательского интерфейса и более оптимальной работы. Это облегчает использование микроскопа как в научных и производственных организациях, так и в любых учебных: школах, колледжах и ВУЗах.
Созданный на основе сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) нанотехнологический комплекс (НТК) «УМКА» предназначен для проведения демонстрационных, исследовательских и лабораторных работ в области физики, химии, биологии, медицины, генетики и других фундаментальных и прикладных наук, в том числе, технологических работ в сфере наноэлектроники. «УМКА» является инструментом для обучения современным практическим методам работы с наноразмерными структурами. Комплекс используют для исследований в научных и промышленных лабораториях.
Принцип работы туннельного микроскопа имеет значительное отличие от всех других микроскопов и основан на квантовой природе частиц. В основе его работы лежит туннельный эффект — явление туннелирования электронов через узкий потенциальный барьер между металлическим зондом и образцом во внешнем электрическом поле. СТМ осуществляет детектирование локального взаимодействия (изменение силы тока), возникающего между зондом и поверхностью исследуемого образца при их взаимном сближении. При этом в цепь, состоящую из иголки (зонда), образца и источника напряжения, поступает ток. Данные о материале и топографии поверхности получают при изменении расстояния между образцом и иглой (уменьшении туннельного зазора) либо по изменению величины туннельного тока. С помощью СТМ можно получить изображение поверхности вплоть до атомарного разрешения.
