|
|
Контакты | Главная | Стартовая | Избранное | Поиск |
2008-01-10 12:11:36, обсуждение: 0
Рис. 1. Обычный интерферометр, содержащий делители (beamsplitters), зеркала и фазовую пластину φ (сверху). Интенсивность на выходе в зависимости от сдвига фазы (середина). Многократное прохождение фазовой пластины (внизу) [2]. На рис. 1 сверху представлен обычный интерферометр, в одно из плеч которого вставлена пластинка, сдвигающая фазу на φ. Измерение этой фазы с максимальной точностью и есть цель эксперимента. В зависимости от разности фаз двух путей на выходе интерферометра изменяется интенсивность пучка в каналах f и e (рис.1, середина). Фаза измеряется тем точнее, чем выше интенсивность или количество прошедших фотонов N. Однако с увеличением количества фотонов кривая уширяется пропорционально Сотрудники Griffith University (Австралия) [1] в недавнем эксперименте показали, что для повышения точности измерения фазы можно обойтись без запутанных состояний. Как ни странно, идея пришла из квантовых компьютеров, и принадлежит известному специалисту в этой области А.Китаеву. Он предлагал для повышения точности измерений состояния пропускать один и тот же фотон через два одинаковых фазовых кубита, т.е. кодировать информацию в двух кубитах. Авторы настоящей работы используют многократное прохождение фотона через фазовую пластинку с помощью соответствующих зеркал (рис. 1, внизу). Если количество прохождений равно n, то в эксперименте, фактически, измеряется фаза nφ. Абсолютная погрешность в определении фазы nφ будет такой же, но абсолютная погрешность в определении фазы φ уменьшается в n раз. Этот прием работает для измерения малой фазы φ. Для измерения большой фазы надо поступать несколько хитрее, о чем сказано в статье. Настоящая работа не «отменяет» роль запутанных состояний, но просто указывает на другую, вполне классическую, возможность повышения точности измерения в квантовой оптике. B.L. Higgins et al., Nature 450, 393 (2007). J.L. O’Brien, Science 318, 1393 (2007).
В.Вьюрков
• БАК остро нуждается в детекторах для фиксирования элементарных частиц
|