|
|
|
| Контакты | Главная | Стартовая | Избранное | Поиск |
|
2007-12-14 13:55:47, обсуждение: 0 Новая система состоит из атомного силового микроскопа (АСМ) а также специально разработанного программного обеспечения и электроники, с помощью которых обычная карта поверхности материала, получаемая микроскопом, преобразуется в двухмерное изображение распределения механических свойств материала вблизи его поверхности. Исследователи использовали эту систему для составления карты распределения упругих свойств в тонких пленках. Получение изображения размером 256x256 пикселей, которое охватывало область поверхности микрометрового размера, требовало всего 20-25 минут, сообщает EurekAlert. Дегтярчук С.В. • Самая массивная черная дыра, масса которой в 18 млрд. раз превышает массу нашего Солнца, была обнаружена на расстоянии 3,5 млрд. световых лет от Земли Комментарии могут оставлять только зарегистрированные пользователи! |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Контакты | Главная | Поиск |
|
|
Администрация журнала не несет ответственности за достоверность информации, опубликованной в рекламных объявлениях. При полном или частичном использовании материалов ссылка на physics.com.ua обязательна. Главный редактор - к.ф.-м.н., н.с. ДонФТИ им. А.А. Галкина НАН Украины, Рассолов С.Г. Администратор и модератор сайта - Дегтярчук С.В. Copyleft © Physics.com.ua 2004 - 2008 Хостинг - Брущенко А. |