Научные исследования и технические разработки
по физике. Новости, факты, люди, интервью. Теория и практика.
Каталог статей. Каталог ссылок. Форум. Научно-технические разработки.
Документация, библиотека.
Палата мер и весов. Работа
для физиков. Юмор, сатира, лирика.
Система для исследования свойств материалов на наноуровне
Ученые из Национального института стандартов и технологий разработали систему, которая позволяет получать карту распределения механических свойств материалов с нанометровым разрешением. Эта технология может применяться при разработке новых композитных материалов и тонкопленочных структур.
Новая система состоит из атомного силового микроскопа (АСМ) а также специально разработанного программного обеспечения и электроники, с помощью которых обычная карта поверхности материала, получаемая микроскопом, преобразуется в двухмерное изображение распределения механических свойств материала вблизи его поверхности.
Исследователи использовали эту систему для составления карты распределения упругих свойств в тонких пленках. Получение изображения размером 256x256 пикселей, которое охватывало область поверхности микрометрового размера, требовало всего 20-25 минут, сообщает EurekAlert.
