Научные исследования и технические разработки
по физике. Новости, факты, люди, интервью. Теория и практика.
Каталог статей. Каталог ссылок. Форум. Научно-технические разработки.
Документация, библиотека.
Палата мер и весов. Работа
для физиков. Юмор, сатира, лирика.
Интерферометр для контроля качества оптических систем и компонентов
Оптико-механический завод «Гипромех» предлагает Вам комбинированный интерферометр для контроля качества оптических систем и компонентов. Интерферометр представляет собой единый блок с возможностью дополнения внешними системами формирования световых пучков, в котором реализованы три принципа измерений: интерферометр Физо, интерферометр Майкельсона и интерферометр бокового сдвига.
Наличие трёх схем, соответствующих методик измерения и программного обеспечения позволяет контролировать плоские, сферические, асферические, цилиндрические, планоидные и т.п. поверхности, а так же линзы, объективы и другие оптические системы, формирующие световые пучки различной конфигурации. Возможен контроль заготовок, подложек электрических схем и других деталей с отражающей поверхностью.
Язык интерфейса и описания программного обеспечения – английский или русский (по желанию заказчика возможно оформление программного продукта на немецком и китайском).
Основные технические и эксплуатационные характеристики:
Максимальное относительное отверстие интерферометрической системы при контроле вогнутых сферических и асферических поверхностей:
1:0,6
Максимальное относительное отверстие интерферометрической системы при контроле выпуклых сферических и асферических поверхностей:
1/1,5
Интервал значений измеряемых аббераций (PV), длина волны:
0,03 – 60
Длина волны источника зондирующего излучения, мкм:
0,6328
Абсолютная погрешность измерения, длина волны:
λ/40
Габаритные размеры без дополнительной оснастки, мм.:
600х705х170
Максимальная относительная влажность, %:
80
Напряжение электропитания, В:
220 - 230
Частота тока электропитания, Гц:
50 ±3
Вес прибора без дополнительной оснастки, кг.:
34
В следующей таблице названы реализуемые в интерферометре методы в зависимости от отражательных свойств оптических поверхностей.
№ п/п
Отражательные свойства оптических компонентов
Метод (принцип) контроля
1
Поверхности, отражающие по закону
Френеля
Метод Физо. Метод сдвига.
2
Поверхности с коэффициентом отражения более 10% и оптические системы
Измерения по схеме Майкельсона. Метод сдвига.
3
Призмы и т.п.
Метод Физо при наличии
круговой поляризации.
Выполняется метрологическая аттестация, как интерферометра, так и программного обеспечения. Аттестация и калибровка выполняется разработчиком по утвержденной метрологической организацией программе. Методика аттестации и калибровки программного обеспечения основана на генерации специальной программой интерферограмм с различным уровнем шумов и импульсных помех.
Один из реализуемых нами методов аттестации интерферометра основан на обработке интерференционной картины от поверхности жидкости. В качестве примера показана интерферограмма жидкого зеркала, полученная при одном из вариантов аттестации интерферометра, и результат ее обработки.
Одна из интерферограмм жидкого зеркала
Окно программы обработки интерферограммы после выполнения фильтрации
Отчет, представляющий результаты обработки интерферограмм.
Контактные данные:
ЗАКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКИЙ ЗАВОД «ГИПРОМЕХ»
